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Co-optimization of Ferroelectric Gate Stacks on Operation Voltage and Memory Window for Next-Generation NAND Flash

Bo Chen, Yizhi Liu, Yifan Wu, Pengpeng Sang, Jixuan Wu,Xuepeng Zhan,Jiezhi Chen

Science China Information Sciences（2025）

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关键词
TiO2,gate stack,HZO,memory window
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