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在清言上使用

Neutron Yield Optimization from a Palm Top Plasma Focus Device Using Lee Code

M. I. Nayeem, S. Biswas, M. K. Islam,M. Akel, S. Lee,M. A. Malek

IEEE TRANSACTIONS ON PLASMA SCIENCE(2025)

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关键词
100 J plasma focus (PF),current trace fitting,deuterium gas,Lee code,neutron yield
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