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Statistical Analysis of Spurious Dot Formation in SiMOS Single Electron Transistors

Kuan-Chu Chen,Clement Godfrin,George Simion, Imri Fattal,Stefan Kubicek, Sofie Beyne, Bart Raes, Arne Loenders, Kuo-Hsing Kao,Danny Wan,Kristiaan De Greve

arxiv（2024）

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