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On-Chip Fabrication-Tolerant Exceptional Points Based on Dual-Scatterer Engineering.

Jiewen Li,Wanxin Li,Yang Feng,Jinzhao Wang,Yong Yao, Yunxu Sun,Yi Zou,Jiawei Wang,Feng He,Jianan Duan,Gina Jinna Chen,Perry Ping Shum,Xiaochuan Xu

Nano Letters（2024）

引用 4|浏览33

关键词

exceptional point,on-chipmicroring,backscattering,fabrication constraints

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