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Analysis and Characterization of CdTe Material Surface Defects

M. Bezak,S. Bharthuar,E. Brucken,A. Gadda,M. Golovleva,M. Kalliokoski,S. Kirschenmann,P. Luukka,J. Ott

Journal of Instrumentation（2023）

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关键词

Materials for solid-state detectors,Solid state detectors,X-ray detectors

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