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Feedback Lock-in: A Versatile Multi-Terminal Measurement System for Electrical Transport Devices

Arthur W. Barnard,Evgeny Mikheev,Joe Finney, Han S. Hiller,David Goldhaber-Gordon

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS（2023）

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关键词
CMOS Scaling
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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