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Impact of the Strained Sige Source/Drain on Hot Carrier Reliability for 45 Nm P-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors

C. Y. Cheng,Y. K. Fang,J. C. Hsieh,H. Hsia,W. M. Chen,S. S. Lin,C. S. Hou

APPLIED PHYSICS LETTERS（2008）

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