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Evolution of Microstructure and Surface Topography of Gold Thin Films under Thermal Annealing

P. Dash,H. Rath,B. N. Dash,P. Mallick,T. Basu,T. Som,U. P. Singh,N. C. Mishra

FUNCTIONAL MATERIALS-BOOK（2012）

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关键词
Thickness,X-ray diffraction,Atomic force microscopy
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