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Total Ionizing Dose Effect at Low Temperature in HfO2 MOS Capacitors Irradiated with Proton
Man Li, Jinhao Hu,Jianmin Shi, Huaqing Huang,Shuming Peng,Jianming Xue
2024 3rd International Symposium on Semiconductor and Electronic Technology (ISSET)pp.333-339, (2024)
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