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Investigation of BVdss Instability in Trench Power MOSFET Through DLTS, Electrical Characterization and TCAD Simulations
Marina Ruggeri, Patrick Calenzo,Frédéric Morancho, Lia Masoero, Rosalia Germana, Alessandro Nodari,Richard Monflier
2023 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) (2023)
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Backside Fault Localization and Defect Physical Analysis of Degraded Power HEMT P-Gan Transistors Stressed in DC and AC Switching Modes
L. Ghizzo,G. Guibaud, C. De Nardi, F. Jamin,V. Chazal,D. Trémouilles,R. Monflier,F. Richardeau,G. Bascoul,M. González
International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2023 Conference Proceedings from the 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2023)
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