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Differences Between Polar-Face and Non-Polar Face 4H-Sic/sio<sub>2 </sub>interfaces Revealed by Magnetic Resonance Spectroscopy
Reika Kondo, Hualing Zeng,Mitsuru Sometani, Hirohisa Hirai,Heiji Watanabe,T. Umeda
Defect and diffusion forum/Diffusion and defect data, solid state data Part A, Defect and diffusion forum (2024): 99-103
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Gate Stress-Induced Mobility Degradation in NO-nitrided SiC(0001) MOSFETs
Takuma Kobayashi, Kaho Koyanagi, Hirohisa Hirai,Mitsuru Sometani,Mitsuo Okamoto,Heiji Watanabe
APPLIED PHYSICS LETTERSno. 25 (2024)
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10 Kv SiC Thyristor for High Voltage Pulsed Power Generators
Koji Nakayama,Yasunori Tanaka,Tomohisa Kato,Kazutoshi Kojima,Mitsuru Sometani,Yoshiyuki Yonezawa
2023 IEEE APPLIED POWER ELECTRONICS CONFERENCE AND EXPOSITION, APECpp.187-193, (2023)
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