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Impact of N+/p+-Doped Polysilicon Gate in Lateral Overflow Transistor on Organic Photoconductive Film CMOS Image Sensor Dark Currents
Yoshihiro Sato, Tsutomu Kobayashi,Takayoshi Yamada,Kazuko Nishimura,Masashi Murakami
2023 IEEE INTERNATIONAL MEETING FOR FUTURE OF ELECTRON DEVICES, KANSAI, IMFEDK (2023)
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