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Stochastically Broken Inversion Symmetry of Van Der Waals Topological Insulator for Nanoscale Physically Unclonable Functions
Gunhyoung Kim, Jinhyoung Lee,Hyunho Seok, Taewoo Kang, Minyoung Lee, Hyunbin Choi,Sihoon Son,Jinill Cho, Dongho Lee, Seowoo Son, Hosin Hwang, Hyelim Shin, Sujeong Han,Gunhoo Woo, Alexina Ollier, Yeon-Ji Kim, Lei Fang, Seunghwan Lee, Gyuho Han, Goo-Eun Jung, Youngi Lee,Hyeong-U Kim, Jungwon Park, Andreas Heinrich, Won-Jun Jang, Seok Joon Kwon,Taesung Kim
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla)no. 13 (2025): e2419927-e2419927
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Multi-Domain Data Integration for Plasma Diagnostics in Semiconductor Manufacturing Using Tri-CycleGAN
Minji Kang,Sung Kyu Jang, Jihun Kim, Seongho Kim, Changmin Kim, Hyo-Chang Lee,Wooseok Kang,Min Sup Choi,Hyeongkeun Kim,Hyeong-U Kim
JOURNAL OF SENSOR AND ACTUATOR NETWORKSno. 6 (2024)
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