ATTIVITÀ SCIENTIFICA dal 1992 ad oggi:

Caratterizzazione elettrica, modellizzazione e affidabilità di dispositivi elettronici su semiconduttori ad ampio Energy Gap (GaN e SiC).
Caratterizzazione elettrica, modellizzazione valutazione dell’affidabilità (con identificazione dei relativi modi e meccanismi di guasto) di dispositivi per microonde su semiconduttori III-V quali GaN, SiC, GaAs e InP.
Progettazione, collaudo e modellizzazione di strutture di protezione da ESD per circuiti integrati CMOS e SMART POWER (tecnologia BCD, Bipolare, CMOS, DMOS);
Caratterizzazione elettrica, modellizzazione e affidabilità di RF-MEMS switches per antenne riconfigurabili;
Sviluppo e caratterizzazione di Celle solari per applicazioni fotovoltaiche;
Studio delle caratteristiche elettro/ottiche e dell’affidabilità di dispositivi emettitori di luce (LED e LASER) su Nitruro di Gallio (GaN) con emissione nel blu, nel verde e UV.
Caratterizzazione elettrica, modellizzazione e affidabilità di dispositivi su materiali semiconduttori organici.